環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備的可靠性測(cè)試分析篇上
    上述環(huán)境試驗(yàn)的相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)如下（部分試驗(yàn)可能沒有相關(guān)國(guó)標(biāo)，或者是我還沒有找到）： 
1、低溫試驗(yàn) 
按GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫試驗(yàn)》； 
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 
    進(jìn)行低溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 
溫度范圍：-70℃～10℃。 
2、高溫試驗(yàn) 
按GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫試驗(yàn)》； 
GB/T2423.22—87《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)方法》 
    進(jìn)行高溫試驗(yàn)及溫度變化試驗(yàn)。 
溫度范圍：10℃～210℃ 
3、濕熱試驗(yàn) 
按GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法恒定濕熱試驗(yàn)》； 
GB/T2423.4—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法交變濕熱試驗(yàn)》 
    進(jìn)行恒定濕熱試驗(yàn)及交變濕熱試驗(yàn)。 
濕度范圍：30%RH～100%RH 
4、霉菌試驗(yàn) 
按GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法長(zhǎng)霉試驗(yàn)》進(jìn)行霉菌試驗(yàn)。 
5、鹽霧試驗(yàn) 
按GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法鹽霧試驗(yàn)》進(jìn)行鹽霧試驗(yàn)。 
6、低氣壓試驗(yàn) 
按GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低氣壓試驗(yàn)》； 
GB/T2423.25—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法低溫/低氣壓試驗(yàn)》； 
GB/T2423.26—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法高溫/低氣壓試驗(yàn)》； 
進(jìn)行低氣壓試驗(yàn)，高、低溫/低氣壓試驗(yàn)。試驗(yàn)范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。 
7、振動(dòng)試驗(yàn) 
按GB/T2423.10—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法振動(dòng)試驗(yàn)》進(jìn)行振動(dòng)試驗(yàn)。 
頻率范圍（機(jī)械振動(dòng)臺(tái)）：5～60Hz（定頻振動(dòng)5～80Hz），zui大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動(dòng)臺(tái)）：5～3000Hz，zui大位移25mmP-P。 
8、沖擊試驗(yàn) 
按GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法沖擊試驗(yàn)》進(jìn)行沖擊試驗(yàn)。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。 
9、碰撞試驗(yàn) 
按GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法碰撞試驗(yàn)》進(jìn)行碰撞試驗(yàn)。 
10、跌落試驗(yàn) 
按GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法傾跌與翻到試驗(yàn)》； 
GB/T2423.8—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第二部分：試驗(yàn)方法自由跌落試驗(yàn)》進(jìn)行跌落試驗(yàn)。 
說明：上面13項(xiàng)比較全面地概括了產(chǎn)品在實(shí)現(xiàn)使用過程中碰到的外界環(huán)境；實(shí)際測(cè)試時(shí)，因?yàn)楦鳟a(chǎn)品本身屬性的相差較遠(yuǎn)、使用環(huán)境相差也很大，各公司可以根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)，適當(dāng)選取、增加一些項(xiàng)目來測(cè)試（此產(chǎn)品對(duì)應(yīng)的國(guó)/行標(biāo)中要求的必測(cè)試項(xiàng)目，當(dāng)然是必須測(cè)試的）；也可以根據(jù)產(chǎn)品特定的使用環(huán)境與使用方法，自行設(shè)計(jì)一些新測(cè)試項(xiàng)目，以驗(yàn)證產(chǎn)品是否能長(zhǎng)期工作。 
測(cè)試條件：不同的產(chǎn)品測(cè)試條件不一樣；就拿高溫測(cè)試來說，有些產(chǎn)品要求做高溫貯存測(cè)試，有些要求做高溫運(yùn)行測(cè)試，有些產(chǎn)品的高溫用85℃做測(cè)試，有些產(chǎn)品的高溫是用65℃做測(cè)試。但是，宗旨只有一個(gè)，那就是至少滿足國(guó)/行標(biāo)。要測(cè)試一種產(chǎn)品的可靠性，找到這種產(chǎn)品的國(guó)/行標(biāo)是必需的，按照國(guó)/行標(biāo)的要求和指引找出必須的測(cè)試項(xiàng)目與各項(xiàng)目的測(cè)試方法，從而進(jìn)行環(huán)境測(cè)試；